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Référence
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Date
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Titre
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Langue
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EN 61967-4:2002/A1:2006
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2006-02-28
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Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz - Partie 4: Mesure des émissions conduites - Méthode par couplage direct 1 ohm/150 ohm
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EN 61967-6:2002
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2002-10-08
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Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz - Partie 6: Mesure des émissions conduites - Méthode de la sonde magnétique
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EN 165000-1:1996
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1996-04-16
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EN 165000-2:1996
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1996-04-16
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EN 190116:1993
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1993-08-15
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Spécification de famille: Circuits intégrés logiques AC MOS
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EN 61964:1999
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1999-05-31
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Circuits intégrés - Configuration de broches de mémoires
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CECC 90 104:1990
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1990-01-01
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Spécification de famille: Circuits intégrés digitaux C. MOS - Séries 4000 B and 4000 UB (avec A1)
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EN 190103:1994
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1994-05-15
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Spécification de famille: Circuits intégrés digitaux TTL low power Schottky - Séries 54LS, 64LS, 74LS, 84LS
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EN 61967-2:2005
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2005-10-25
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Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz - Partie 2: Mesure des émissions rayonnées - Méthode de cellule TEM et cellule TEM à large bande
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EN 62132-1:2006
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2006-02-10
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Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique, 150 kHz à 1 GHz - Partie 1: Conditions générales et définitions
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EN 62132-4:2006
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2006-05-19
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Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique 150 kHz à 1 GHz - Partie 4: Méthode d'injection directe de puissance RF
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EN 62132-5:2006
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2006-01-27
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Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique, 150 kHz à 1 GHz - Partie 5: Méthode de la cage de Faraday sur banc de travail
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EN 62132-3:2007
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2007-10-10
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Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique, 150 kHz à 1 GHz - Partie 3: Méthode d'injection de courant (BCI)
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EN 61967-6:2002/A1:2008
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2008-05-14
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Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz - Partie 6: Mesure des émissions conduites - Méthode de la sonde magnétique
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EN 61967-4:2002
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2002-06-14
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Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz - Partie 4: Mesure des émissions conduites - Méthode par couplage direct 1 ohm/150 ohm
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EN 61967-5:2003
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2003-04-23
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Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz - Partie 5: Mesure des émissions conduites - Méthode de la cage de Faraday sur banc de travail
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EN 61943:1999
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1999-08-09
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Circuits intégrés - Guide d'application pour l'agrément des lignes de fabrication
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EN 61967-1:2002
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2002-06-05
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Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz - Partie 1: Conditions générales et définitions
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EN 165000-3:1996
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1996-04-17
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EN 165000-4:1996
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1996-04-17
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CECC 290 001:1997
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1997-02-04
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EN 190101:1994
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1994-05-15
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Spécification de famille: Circuits intégrés digitaux TTL - Séries 54, 64, 74, 84
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EN 190102:1994
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1994-05-15
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Spécification de famille: Circuits intégrés logiques TTL Schottky - Séries 54S, 64S, 74S, 84S
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EN 190106:1994
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1994-05-15
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Spécification de famille: Circuits intégrés logiques TTL Schottky avancée faible consommation - Séries 54ALS, 74ALS
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EN 190107:1994
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1994-05-15
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Spécification de famille: Circuits intégrés logiques TTL FAST - Sériese 54F, 74F
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EN 190108:1994
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1994-05-15
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Spécification de famille: Circuits intégrés logiques TTL Schottky avancée - Séries 54AS, 74AS
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EN 190109:1994
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1994-05-15
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Spécification de famille: Circuits intégrés logiques HC MOS - Séries HC/HCT/HCU
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EN 190110:1994
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1994-05-15
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Spécification particulière cadre: Microprocesseurs logiques à circuits intégrés
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CECC 90 302:1985
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1985-12-15
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Spécification particulière cadre: Comparateurs de tension intégrés
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EN 190100:1993
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1993-04-15
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Spécification intermédiaire: Circuits intégrés digitaux monolithiques
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EN 163100:1991
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1991-12-15
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Spécification intermédiaire: Circuits intégrés hybride et à couches
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EN 163101:1991
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1991-12-15
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Spécification particulière cadre: Circuits intégrés hybride et à couches
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CECC 90 115:1993
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1993-12-15
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Spécification particulière cadre: Circuits prédiffusés
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CECC 90 114:1994
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1994-07-15
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BDS: Réseaux logiques programmables (PLA) (avec A1)
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CECC 90 300:1994
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1994-09-15
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SS: Circuits intégrés monolithiques d'interface (avec A1) particulières cadres appropriées
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CECC 90 202:1989
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1989-01-01
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Spécification particulière cadre: Amplificateurs opérationnels intégrés (avec A1)
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EN 190000:1995
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1995-06-21
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Spécification générique: Circuits intégrés monolithiques
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CECC 90 105:1986
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1986-01-01
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Spécification particulière cadre: Mémoires bipolaires à lecture seule programmables par fusion, à circuit intégré monolithique au silicium (avec A1 & A2)
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CECC 90 200:1987
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1987-01-01
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Spécification intermèdiaire: Circuits intégrés monolithiques analogiques (avec A1)
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CECC 90 201:1988
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1988-01-01
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Spécification particulière cadre: Régulateurs de tension intégrés (avec A1)
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CECC 90 203:1985
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1985-12-15
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Spécification particulière cadre: Commutateurs analogiques intégrés
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EN 62132-2:2011
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2011-03-04
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Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique - Partie 2: Mesure de l'immunité rayonnée - Méthode de cellule TEM et cellule TEM à large bande
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EN 62433-2:2010
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2010-01-07
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Compatibilité électromagnétique (CEM) - Partie 2: Modèles de circuits intégrés pour la simulation du comportement lors de perturbations électromagnétiques - Modélisation des émissions conduites (ICEM-CE)
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EN 61967-8:2011
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2011-10-14
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Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques - Partie 8: Mesure des émissions rayonnées - Méthode de la ligne TEM à plaques (stripline) pour CI
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EN 62132-8:2012
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2012-09-21
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Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique - Partie 8: Mesure de l'immunité rayonnée - Méthode de la ligne TEM à plaques pour circuit intégré
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