CENELEC
International Standards and Conformity Assessment
for all electrical, electronic and related technologies
CLC/SR 47A |
Circuits intégrés |
CLC/SR 47A Documents de Travail
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IEC vote parallèle
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EN 61967-6:2002/prA1:2005 (pr=17129) Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz - Partie 6: Mesure des émissions conduites - Méthode de la sonde magnétique |
 EN |
2006-05-02 | Procedure Result | Yes | |
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EN 61967-6:2002/prA1:2007 (pr=17129) Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz - Partie 6: Mesure des émissions conduites - Méthode de la sonde magnétique |
EN |
2008-02-04 | Procedure Result | Yes | |
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FprEN 61967-8:2009 (pr=22743) Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques - Partie 8: Mesure des émissions rayonnées - Méthode de la ligne TEM à plaques (stripline) pour CI |
EN |
Procedure Result | Yes | ||
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FprEN 61967-8:2011 (pr=22743) Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques - Partie 8: Mesure des émissions rayonnées - Méthode de la ligne TEM à plaques (stripline) pour CI |
EN |
Procedure Result | Yes | ||
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FprEN 62132-2:2010 (pr=21926) Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique - Partie 2: Mesure de l'immunité rayonnée - Méthode de cellule TEM et cellule TEM à large bande |
EN |
Procedure Result | Yes | ||
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FprEN 62132-2:2008 (pr=21926) Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique - Partie 2: Mesure de l'immunité rayonnée - Méthode de cellule TEM et cellule TEM à large bande |
EN |
2008-11-24 | Procedure Result | Yes | |
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prEN 62132-3:2007 (pr=17166) Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique, 150 kHz à 1 GHz - Partie 3: Méthode d'injection de courant (BCI) |
EN |
2007-09-12 | Procedure Result | Yes | |
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prEN 62132-3:2005 (pr=17166) Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique, 150 kHz à 1 GHz - Partie 3: Méthode d'injection de courant (BCI) |
EN |
2006-06-16 | Procedure Result | Yes | |
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FprEN 62132-8:2012 (pr=23299) Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique - Partie 8: Mesure de l'immunité rayonnée - Méthode de la ligne TEM à plaques pour circuit intégré |
EN |
Procedure Result | Yes | ||
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FprEN 62132-8:2011 (pr=23299) Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique - Partie 8: Mesure de l'immunité rayonnée - Méthode de la ligne TEM à plaques pour circuit intégré |
EN |
Procedure Result | Yes | ||
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FprEN 62215-3:2012 (pr=24071) Circuits intégrés - Mesure de l'immunité aux impulsions - Partie 3: Méthode d'injection de transitoires non synchrones |
EN |
Procedure Result | Yes | ||
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prEN 62433-2:2007 (pr=21163) Compatibilité électromagnétique (CEM) - Partie 2: Modèles de circuits intégrés pour la simulation du comportement lors de perturbations électromagnétiques - Modélisation des émissions conduites (ICEM-CE) |
EN |
2007-07-30 | Procedure Result | Yes | |
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FprEN 62433-2:2008 (pr=21163) Compatibilité électromagnétique (CEM) - Partie 2: Modèles de circuits intégrés pour la simulation du comportement lors de perturbations électromagnétiques - Modélisation des émissions conduites (ICEM-CE) |
EN |
2008-09-16 | Procedure Result | Yes |
CLC/SR 47A Documents ouverts pour vote
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Definitive Text - EN 61967-4:2002/A1:2006 Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz - Partie 4: Mesure des émissions conduites - Méthode par couplage direct 1 ohm/150 ohm |  |
Definitive Text - EN 61967-4:2002/A1:2006 Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz - Partie 4: Mesure des émissions conduites - Méthode par couplage direct 1 ohm/150 ohm | |
Definitive Text - EN 61967-6:2002 Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz - Partie 6: Mesure des émissions conduites - Méthode de la sonde magnétique | |
Definitive Text - EN 61967-4:2002/A1:2006 Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz - Partie 4: Mesure des émissions conduites - Méthode par couplage direct 1 ohm/150 ohm | |
Definitive Text - EN 165000-1:1996 | |
Definitive Text - EN 165000-2:1996 | |
Definitive Text - EN 61967-2:2005 Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz - Partie 2: Mesure des émissions rayonnées - Méthode de cellule TEM et cellule TEM à large bande | |
Definitive Text - EN 61967-2:2005 Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz - Partie 2: Mesure des émissions rayonnées - Méthode de cellule TEM et cellule TEM à large bande | |
Definitive Text - EN 61967-2:2005 Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz - Partie 2: Mesure des émissions rayonnées - Méthode de cellule TEM et cellule TEM à large bande | |
Definitive Text - EN 62132-5:2006 Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique, 150 kHz à 1 GHz - Partie 5: Méthode de la cage de Faraday sur banc de travail | |
Definitive Text - EN 62132-5:2006 Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique, 150 kHz à 1 GHz - Partie 5: Méthode de la cage de Faraday sur banc de travail | |
Definitive Text - EN 62132-5:2006 Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique, 150 kHz à 1 GHz - Partie 5: Méthode de la cage de Faraday sur banc de travail | |
Definitive Text - EN 62132-1:2006 Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique, 150 kHz à 1 GHz - Partie 1: Conditions générales et définitions | |
Definitive Text - EN 62132-1:2006 Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique, 150 kHz à 1 GHz - Partie 1: Conditions générales et définitions | |
Definitive Text - EN 62132-1:2006 Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique, 150 kHz à 1 GHz - Partie 1: Conditions générales et définitions | |
Definitive Text - EN 62132-4:2006 Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique 150 kHz à 1 GHz - Partie 4: Méthode d'injection directe de puissance RF | |
Definitive Text - EN 62132-4:2006 Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique 150 kHz à 1 GHz - Partie 4: Méthode d'injection directe de puissance RF | |
Definitive Text - EN 62132-4:2006 Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique 150 kHz à 1 GHz - Partie 4: Méthode d'injection directe de puissance RF | |
Definitive Text - EN 61967-8:2011 Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques - Partie 8: Mesure des émissions rayonnées - Méthode de la ligne TEM à plaques (stripline) pour CI | |
Definitive Text - EN 61967-8:2011 Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques - Partie 8: Mesure des émissions rayonnées - Méthode de la ligne TEM à plaques (stripline) pour CI | |
Definitive Text - EN 61967-8:2011 Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques - Partie 8: Mesure des émissions rayonnées - Méthode de la ligne TEM à plaques (stripline) pour CI | |
Definitive Text - EN 62132-3:2007 Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique, 150 kHz à 1 GHz - Partie 3: Méthode d'injection de courant (BCI) | |
Definitive Text - EN 62132-3:2007 Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique, 150 kHz à 1 GHz - Partie 3: Méthode d'injection de courant (BCI) | |
Definitive Text - EN 62132-3:2007 Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique, 150 kHz à 1 GHz - Partie 3: Méthode d'injection de courant (BCI) | |
Definitive Text - EN 61967-6:2002/A1:2008 Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz - Partie 6: Mesure des émissions conduites - Méthode de la sonde magnétique | |
Definitive Text - EN 61967-6:2002/A1:2008 Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz - Partie 6: Mesure des émissions conduites - Méthode de la sonde magnétique | |
Definitive Text - EN 61967-6:2002/A1:2008 Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz - Partie 6: Mesure des émissions conduites - Méthode de la sonde magnétique | |
Definitive Text - EN 190116:1993 Spécification de famille: Circuits intégrés logiques AC MOS | |
Definitive Text - EN 61964:1999 Circuits intégrés - Configuration de broches de mémoires | |
Definitive Text - EN 190103:1994 Spécification de famille: Circuits intégrés digitaux TTL low power Schottky - Séries 54LS, 64LS, 74LS, 84LS | |
Definitive Text - CECC 90 100:1985/AX:1987 SS: Circuits intégrés monolithiques numériques (avec A1 et A2) | |
Definitive Text - CECC 90 000:1990 Spécification générique: Circuits intégrés monolithiques (avec annexes A,B,C,D,E et A1) | |
Definitive Text - CECC 90 100:1985/AX:1988 SS: Circuits intégrés monolithiques numériques (avec A1 et A2) | |
Definitive Text - CECC 90 104:1990 Spécification de famille: Circuits intégrés digitaux C. MOS - Séries 4000 B and 4000 UB (avec A1) | |
Definitive Text - EN 165000-3:1996 | |
Definitive Text - EN 165000-4:1996 | |
Definitive Text - EN 190110:1994 Spécification particulière cadre: Microprocesseurs logiques à circuits intégrés | |
Definitive Text - ENV 190000-6:1993 Spécification générique: Circuits intégrés monolithiques - Procédure pour l'agrément et la gestion de la qualité | |
Definitive Text - EN 190101:1994 Spécification de famille: Circuits intégrés digitaux TTL - Séries 54, 64, 74, 84 | |
Definitive Text - EN 190102:1994 Spécification de famille: Circuits intégrés logiques TTL Schottky - Séries 54S, 64S, 74S, 84S | |
Definitive Text - EN 190106:1994 Spécification de famille: Circuits intégrés logiques TTL Schottky avancée faible consommation - Séries 54ALS, 74ALS | |
Definitive Text - EN 190107:1994 Spécification de famille: Circuits intégrés logiques TTL FAST - Sériese 54F, 74F | |
Definitive Text - EN 190108:1994 Spécification de famille: Circuits intégrés logiques TTL Schottky avancée - Séries 54AS, 74AS | |
Definitive Text - EN 190109:1994 Spécification de famille: Circuits intégrés logiques HC MOS - Séries HC/HCT/HCU | |
Definitive Text - CECC 90 302:1985 Spécification particulière cadre: Comparateurs de tension intégrés | |
Definitive Text - CECC 290 001:1997 | |
Definitive Text - EN 190100:1993 Spécification intermédiaire: Circuits intégrés digitaux monolithiques | |
Definitive Text - EN 61967-4:2002 Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz - Partie 4: Mesure des émissions conduites - Méthode par couplage direct 1 ohm/150 ohm | |
Definitive Text - EN 61943:1999 Circuits intégrés - Guide d'application pour l'agrément des lignes de fabrication | |
Definitive Text - EN 61967-5:2003 Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz - Partie 5: Mesure des émissions conduites - Méthode de la cage de Faraday sur banc de travail | |
Definitive Text - EN 61967-1:2002 Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz - Partie 1: Conditions générales et définitions | |
Definitive Text - CECC 90 203:1985 Spécification particulière cadre: Commutateurs analogiques intégrés | |
Definitive Text - CECC 90 115:1993 Spécification particulière cadre: Circuits prédiffusés | |
Definitive Text - CECC 90 114:1994 BDS: Réseaux logiques programmables (PLA) (avec A1) | |
Definitive Text - CECC 90 202:1989 Spécification particulière cadre: Amplificateurs opérationnels intégrés (avec A1) | |
Definitive Text - EN 190000:1995 Spécification générique: Circuits intégrés monolithiques | |
Definitive Text - CECC 90 300:1994 SS: Circuits intégrés monolithiques d'interface (avec A1) particulières cadres appropriées | |
Definitive Text - CECC 90 100:1985/AX:1990 SS: Circuits intégrés monolithiques numériques (avec A1 et A2) | |
Definitive Text - CECC 90 100:1985/AX:1990 SS: Circuits intégrés monolithiques numériques (avec A1 et A2) | |
Definitive Text - CECC 90 100:1985/AX:1989 SS: Circuits intégrés monolithiques numériques (avec A1 et A2) | |
Definitive Text - CECC 90 100:1985/AX:1989 SS: Circuits intégrés monolithiques numériques (avec A1 et A2) | |
Definitive Text - CECC 90 200:1987 Spécification intermèdiaire: Circuits intégrés monolithiques analogiques (avec A1) | |
Definitive Text - CECC 90 201:1988 Spécification particulière cadre: Régulateurs de tension intégrés (avec A1) | |
Definitive Text - CECC 90 105:1986 Spécification particulière cadre: Mémoires bipolaires à lecture seule programmables par fusion, à circuit intégré monolithique au silicium (avec A1 & A2) | |
Definitive Text - CECC 90 100:1985 SS: Circuits intégrés monolithiques numériques (avec A1 et A2) | |
Definitive Text - CECC 90 100:1985/AX:1985 SS: Circuits intégrés monolithiques numériques (avec A1 et A2) | |
Definitive Text - EN 62132-2:2011 Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique - Partie 2: Mesure de l'immunité rayonnée - Méthode de cellule TEM et cellule TEM à large bande | |
Definitive Text - EN 62132-2:2011 Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique - Partie 2: Mesure de l'immunité rayonnée - Méthode de cellule TEM et cellule TEM à large bande | |
Definitive Text - EN 62132-2:2011 Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique - Partie 2: Mesure de l'immunité rayonnée - Méthode de cellule TEM et cellule TEM à large bande | |
Definitive Text - CECC 90 301:1985 Spécification particulière cadre: Emetteurs et/ou récepteurs de ligne intégrés (avec erratum et A1) | |
Definitive Text - CECC 90 111:1986 Spécification particulière cadre: Mémoires RAM statiques lecture/écriture à circuits intégrés (avec A1) | |
Definitive Text - CECC 90 112:1986 Spécification particulière cadre: Mémoires RAM dynamiques lecture/écriture à circuits intégrés (avec A1) | |
Definitive Text - CECC 90 113:1986 Spécification particulière cadre: Memoires mortes MOS à circuits intégrés effaçables aux UV et programmables électriquement | |
Definitive Text - EN 61967-4:2002/A1:2006/corrigendum Dec. 2006 Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz - Partie 4: Mesure des émissions conduites - Méthode par couplage direct 1 ohm/150 ohm | |
Definitive Text - EN 61967-4:2002/A1:2006/corrigendum Dec. 2006 Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz - Partie 4: Mesure des émissions conduites - Méthode par couplage direct 1 ohm/150 ohm | |
Definitive Text - EN 61967-4:2002/A1:2006/corrigendum Dec. 2006 Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz - Partie 4: Mesure des émissions conduites - Méthode par couplage direct 1 ohm/150 ohm | |
Definitive Text - EN 62132-1:2006/corrigendum Nov. 2006 Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique, 150 kHz à 1 GHz - Partie 1: Conditions générales et définitions | |
Definitive Text - EN 62132-1:2006/corrigendum Nov. 2006 Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique, 150 kHz à 1 GHz - Partie 1: Conditions générales et définitions | |
Definitive Text - EN 62132-1:2006/corrigendum Nov. 2006 Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique, 150 kHz à 1 GHz - Partie 1: Conditions générales et définitions | |
Definitive Text - EN 62132-8:2012 Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique - Partie 8: Mesure de l'immunité rayonnée - Méthode de la ligne TEM à plaques pour circuit intégré | |
Definitive Text - EN 62132-8:2012 Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique - Partie 8: Mesure de l'immunité rayonnée - Méthode de la ligne TEM à plaques pour circuit intégré | |
Definitive Text - EN 62132-8:2012 Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique - Partie 8: Mesure de l'immunité rayonnée - Méthode de la ligne TEM à plaques pour circuit intégré | |
Definitive Text - EN 163100:1991 Spécification intermédiaire: Circuits intégrés hybride et à couches | |
Definitive Text - EN 163101:1991 Spécification particulière cadre: Circuits intégrés hybride et à couches | |
Definitive Text - EN 62433-2:2010 Compatibilité électromagnétique (CEM) - Partie 2: Modèles de circuits intégrés pour la simulation du comportement lors de perturbations électromagnétiques - Modélisation des émissions conduites (ICEM-CE) | |
Definitive Text - EN 62433-2:2010 Compatibilité électromagnétique (CEM) - Partie 2: Modèles de circuits intégrés pour la simulation du comportement lors de perturbations électromagnétiques - Modélisation des émissions conduites (ICEM-CE) | |
Definitive Text - EN 62433-2:2010 Compatibilité électromagnétique (CEM) - Partie 2: Modèles de circuits intégrés pour la simulation du comportement lors de perturbations électromagnétiques - Modélisation des émissions conduites (ICEM-CE) | |
