International Standards and Conformity Assessment for all electrical, electronic and related technologies

CLC/SR 47A

Circuits intégrés

 
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EN 61967-6:2002/prA1:2007 (pr=17129)
Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz - Partie 6: Mesure des émissions conduites - Méthode de la sonde magnétique
export to doc file  EN 2008-02-04   Procedure Result Yes
EN 61967-6:2002/prA1:2005 (pr=17129)
Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz - Partie 6: Mesure des émissions conduites - Méthode de la sonde magnétique
export to doc file  EN 2006-05-02   Procedure Result Yes
FprEN 61967-8:2009 (pr=22743)
Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques - Partie 8: Mesure des émissions rayonnées - Méthode de la ligne TEM à plaques (stripline) pour CI
export to doc file  EN   Procedure Result Yes
FprEN 61967-8:2011 (pr=22743)
Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques - Partie 8: Mesure des émissions rayonnées - Méthode de la ligne TEM à plaques (stripline) pour CI
export to doc file  EN   Procedure Result Yes
FprEN 62132-2:2010 (pr=21926)
Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique - Partie 2: Mesure de l'immunité rayonnée - Méthode de cellule TEM et cellule TEM à large bande
export to doc file  EN   Procedure Result Yes
FprEN 62132-2:2008 (pr=21926)
Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique - Partie 2: Mesure de l'immunité rayonnée - Méthode de cellule TEM et cellule TEM à large bande
export to doc file  EN 2008-11-24   Procedure Result Yes
prEN 62132-3:2007 (pr=17166)
Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique, 150 kHz à 1 GHz - Partie 3: Méthode d'injection de courant (BCI)
export to doc file  EN 2007-09-12   Procedure Result Yes
prEN 62132-3:2005 (pr=17166)
Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique, 150 kHz à 1 GHz - Partie 3: Méthode d'injection de courant (BCI)
export to doc file  EN 2006-06-16   Procedure Result Yes
FprEN 62132-8:2011 (pr=23299)
Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique - Partie 8: Mesure de l'immunité rayonnée - Méthode de la ligne TEM à plaques pour circuit intégré
export to doc file  EN   Procedure Result Yes
FprEN 62132-8:2012 (pr=23299)
Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique - Partie 8: Mesure de l'immunité rayonnée - Méthode de la ligne TEM à plaques pour circuit intégré
export to doc file  EN   Procedure Result Yes
FprEN 62215-3:2012 (pr=24071)
Circuits intégrés - Mesure de l'immunité aux impulsions - Partie 3: Méthode d'injection de transitoires non synchrones
export to doc file  EN   Procedure Result Yes
prEN 62433-2:2007 (pr=21163)
Modèles de circuits intégrés pour la CEM - Partie 2: Modèles de circuits intégrés pour la simulation du comportement lors de perturbations électromagnétiques – Modélisation des émissions conduites (ICEM-CE)
export to doc file  EN 2007-07-30   Procedure Result Yes
FprEN 62433-2:2008 (pr=21163)
Modèles de circuits intégrés pour la CEM - Partie 2: Modèles de circuits intégrés pour la simulation du comportement lors de perturbations électromagnétiques – Modélisation des émissions conduites (ICEM-CE)
export to doc file  EN 2008-09-16   Procedure Result Yes

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Definitive Text - EN 61967-4:2002/A1:2006
Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz - Partie 4: Mesure des émissions conduites - Méthode par couplage direct 1 ohm/150 ohm
Definitive Text - EN 61967-4:2002/A1:2006
Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz - Partie 4: Mesure des émissions conduites - Méthode par couplage direct 1 ohm/150 ohm
Definitive Text - EN 61967-6:2002
Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz - Partie 6: Mesure des émissions conduites - Méthode de la sonde magnétique
Definitive Text - EN 61967-4:2002/A1:2006
Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz - Partie 4: Mesure des émissions conduites - Méthode par couplage direct 1 ohm/150 ohm
Definitive Text - EN 165000-1:1996
 
Definitive Text - EN 165000-2:1996
 
Definitive Text - EN 61967-2:2005
Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz - Partie 2: Mesure des émissions rayonnées - Méthode de cellule TEM et cellule TEM à large bande
Definitive Text - EN 61967-2:2005
Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz - Partie 2: Mesure des émissions rayonnées - Méthode de cellule TEM et cellule TEM à large bande
Definitive Text - EN 61967-2:2005
Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz - Partie 2: Mesure des émissions rayonnées - Méthode de cellule TEM et cellule TEM à large bande
Definitive Text - EN 62132-5:2006
Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique, 150 kHz à 1 GHz - Partie 5: Méthode de la cage de Faraday sur banc de travail
Definitive Text - EN 62132-5:2006
Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique, 150 kHz à 1 GHz - Partie 5: Méthode de la cage de Faraday sur banc de travail
Definitive Text - EN 62132-5:2006
Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique, 150 kHz à 1 GHz - Partie 5: Méthode de la cage de Faraday sur banc de travail
Definitive Text - EN 62132-1:2006
Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique, 150 kHz à 1 GHz - Partie 1: Conditions générales et définitions
Definitive Text - EN 62132-1:2006
Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique, 150 kHz à 1 GHz - Partie 1: Conditions générales et définitions
Definitive Text - EN 62132-1:2006
Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique, 150 kHz à 1 GHz - Partie 1: Conditions générales et définitions
Definitive Text - EN 62132-4:2006
Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique 150 kHz à 1 GHz - Partie 4: Méthode d'injection directe de puissance RF
Definitive Text - EN 62132-4:2006
Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique 150 kHz à 1 GHz - Partie 4: Méthode d'injection directe de puissance RF
Definitive Text - EN 62132-4:2006
Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique 150 kHz à 1 GHz - Partie 4: Méthode d'injection directe de puissance RF
Definitive Text - EN 61967-8:2011
Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques - Partie 8: Mesure des émissions rayonnées - Méthode de la ligne TEM à plaques (stripline) pour CI
Definitive Text - EN 61967-8:2011
Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques - Partie 8: Mesure des émissions rayonnées - Méthode de la ligne TEM à plaques (stripline) pour CI
Definitive Text - EN 61967-8:2011
Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques - Partie 8: Mesure des émissions rayonnées - Méthode de la ligne TEM à plaques (stripline) pour CI
Definitive Text - EN 62132-3:2007
Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique, 150 kHz à 1 GHz - Partie 3: Méthode d'injection de courant (BCI)
Definitive Text - EN 62132-3:2007
Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique, 150 kHz à 1 GHz - Partie 3: Méthode d'injection de courant (BCI)
Definitive Text - EN 62132-3:2007
Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique, 150 kHz à 1 GHz - Partie 3: Méthode d'injection de courant (BCI)
Definitive Text - EN 61967-6:2002/A1:2008
Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz - Partie 6: Mesure des émissions conduites - Méthode de la sonde magnétique
Definitive Text - EN 61967-6:2002/A1:2008
Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz - Partie 6: Mesure des émissions conduites - Méthode de la sonde magnétique
Definitive Text - EN 61967-6:2002/A1:2008
Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz - Partie 6: Mesure des émissions conduites - Méthode de la sonde magnétique
Definitive Text - EN 190116:1993
Spécification de famille: Circuits intégrés logiques AC MOS
Definitive Text - EN 61964:1999
Circuits intégrés - Configuration de broches de mémoires
Definitive Text - EN 190103:1994
Spécification de famille: Circuits intégrés digitaux TTL low power Schottky - Séries 54LS, 64LS, 74LS, 84LS
Definitive Text - CECC 90 100:1985/AX:1987
SS: Circuits intégrés monolithiques numériques (avec A1 et A2)
 
Definitive Text - CECC 90 000:1990
Spécification générique: Circuits intégrés monolithiques (avec annexes A,B,C,D,E et A1)
 
Definitive Text - CECC 90 100:1985/AX:1988
SS: Circuits intégrés monolithiques numériques (avec A1 et A2)
 
Definitive Text - CECC 90 104:1990
Spécification de famille: Circuits intégrés digitaux C. MOS - Séries 4000 B and 4000 UB (avec A1)
 
Definitive Text - EN 165000-3:1996
 
Definitive Text - EN 165000-4:1996
 
Definitive Text - EN 190110:1994
Spécification particulière cadre: Microprocesseurs logiques à circuits intégrés
Definitive Text - ENV 190000-6:1993
Spécification générique: Circuits intégrés monolithiques - Procédure pour l'agrément et la gestion de la qualité
 
Definitive Text - EN 190101:1994
Spécification de famille: Circuits intégrés digitaux TTL - Séries 54, 64, 74, 84
Definitive Text - EN 190102:1994
Spécification de famille: Circuits intégrés logiques TTL Schottky - Séries 54S, 64S, 74S, 84S
Definitive Text - EN 190106:1994
Spécification de famille: Circuits intégrés logiques TTL Schottky avancée faible consommation - Séries 54ALS, 74ALS
Definitive Text - EN 190107:1994
Spécification de famille: Circuits intégrés logiques TTL FAST - Sériese 54F, 74F
Definitive Text - EN 190108:1994
Spécification de famille: Circuits intégrés logiques TTL Schottky avancée - Séries 54AS, 74AS
Definitive Text - EN 190109:1994
Spécification de famille: Circuits intégrés logiques HC MOS - Séries HC/HCT/HCU
Definitive Text - CECC 90 302:1985
Spécification particulière cadre: Comparateurs de tension intégrés
 
Definitive Text - CECC 290 001:1997
 
 
Definitive Text - EN 190100:1993
Spécification intermédiaire: Circuits intégrés digitaux monolithiques
Definitive Text - EN 61967-4:2002
Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz - Partie 4: Mesure des émissions conduites - Méthode par couplage direct 1 ohm/150 ohm
Definitive Text - EN 61943:1999
Circuits intégrés - Guide d'application pour l'agrément des lignes de fabrication
Definitive Text - EN 61967-5:2003
Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz - Partie 5: Mesure des émissions conduites - Méthode de la cage de Faraday sur banc de travail
Definitive Text - EN 61967-1:2002
Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz - Partie 1: Conditions générales et définitions
Definitive Text - CECC 90 203:1985
Spécification particulière cadre: Commutateurs analogiques intégrés
 
Definitive Text - CECC 90 115:1993
Spécification particulière cadre: Circuits prédiffusés
 
Definitive Text - CECC 90 114:1994
BDS: Réseaux logiques programmables (PLA) (avec A1)
 
Definitive Text - CECC 90 202:1989
Spécification particulière cadre: Amplificateurs opérationnels intégrés (avec A1)
 
Definitive Text - EN 190000:1995
Spécification générique: Circuits intégrés monolithiques
Definitive Text - CECC 90 300:1994
SS: Circuits intégrés monolithiques d'interface (avec A1) particulières cadres appropriées
 
Definitive Text - CECC 90 100:1985/AX:1990
SS: Circuits intégrés monolithiques numériques (avec A1 et A2)
 
Definitive Text - CECC 90 100:1985/AX:1990
SS: Circuits intégrés monolithiques numériques (avec A1 et A2)
 
Definitive Text - CECC 90 100:1985/AX:1989
SS: Circuits intégrés monolithiques numériques (avec A1 et A2)
 
Definitive Text - CECC 90 100:1985/AX:1989
SS: Circuits intégrés monolithiques numériques (avec A1 et A2)
 
Definitive Text - CECC 90 200:1987
Spécification intermèdiaire: Circuits intégrés monolithiques analogiques (avec A1)
 
Definitive Text - CECC 90 201:1988
Spécification particulière cadre: Régulateurs de tension intégrés (avec A1)
 
Definitive Text - CECC 90 105:1986
Spécification particulière cadre: Mémoires bipolaires à lecture seule programmables par fusion, à circuit intégré monolithique au silicium (avec A1 & A2)
 
Definitive Text - CECC 90 100:1985
SS: Circuits intégrés monolithiques numériques (avec A1 et A2)
 
Definitive Text - CECC 90 100:1985/AX:1985
SS: Circuits intégrés monolithiques numériques (avec A1 et A2)
 
Definitive Text - EN 62132-2:2011
Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique - Partie 2: Mesure de l'immunité rayonnée - Méthode de cellule TEM et cellule TEM à large bande
Definitive Text - EN 62132-2:2011
Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique - Partie 2: Mesure de l'immunité rayonnée - Méthode de cellule TEM et cellule TEM à large bande
Definitive Text - EN 62132-2:2011
Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique - Partie 2: Mesure de l'immunité rayonnée - Méthode de cellule TEM et cellule TEM à large bande
Definitive Text - CECC 90 301:1985
Spécification particulière cadre: Emetteurs et/ou récepteurs de ligne intégrés (avec erratum et A1)
 
Definitive Text - CECC 90 111:1986
Spécification particulière cadre: Mémoires RAM statiques lecture/écriture à circuits intégrés (avec A1)
 
Definitive Text - CECC 90 112:1986
Spécification particulière cadre: Mémoires RAM dynamiques lecture/écriture à circuits intégrés (avec A1)
 
Definitive Text - CECC 90 113:1986
Spécification particulière cadre: Memoires mortes MOS à circuits intégrés effaçables aux UV et programmables électriquement
 
Definitive Text - EN 61967-4:2002/A1:2006/corrigendum Dec. 2006
Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz - Partie 4: Mesure des émissions conduites - Méthode par couplage direct 1 ohm/150 ohm
Definitive Text - EN 61967-4:2002/A1:2006/corrigendum Dec. 2006
Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz - Partie 4: Mesure des émissions conduites - Méthode par couplage direct 1 ohm/150 ohm
Definitive Text - EN 61967-4:2002/A1:2006/corrigendum Dec. 2006
Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz - Partie 4: Mesure des émissions conduites - Méthode par couplage direct 1 ohm/150 ohm
Definitive Text - EN 62132-1:2006/corrigendum Nov. 2006
Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique, 150 kHz à 1 GHz - Partie 1: Conditions générales et définitions
Definitive Text - EN 62132-1:2006/corrigendum Nov. 2006
Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique, 150 kHz à 1 GHz - Partie 1: Conditions générales et définitions
Definitive Text - EN 62132-1:2006/corrigendum Nov. 2006
Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique, 150 kHz à 1 GHz - Partie 1: Conditions générales et définitions
Definitive Text - EN 62215-3:2013
Circuits intégrés - Mesure de l'immunité aux impulsions - Partie 3: Méthode d'injection de transitoires non synchrones
Definitive Text - EN 62215-3:2013
Circuits intégrés - Mesure de l'immunité aux impulsions - Partie 3: Méthode d'injection de transitoires non synchrones
Definitive Text - EN 62215-3:2013
Circuits intégrés - Mesure de l'immunité aux impulsions - Partie 3: Méthode d'injection de transitoires non synchrones
Definitive Text - EN 62132-8:2012
Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique - Partie 8: Mesure de l'immunité rayonnée - Méthode de la ligne TEM à plaques pour circuit intégré
Definitive Text - EN 62132-8:2012
Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique - Partie 8: Mesure de l'immunité rayonnée - Méthode de la ligne TEM à plaques pour circuit intégré
Definitive Text - EN 62132-8:2012
Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique - Partie 8: Mesure de l'immunité rayonnée - Méthode de la ligne TEM à plaques pour circuit intégré
Definitive Text - EN 163100:1991
Spécification intermédiaire: Circuits intégrés hybride et à couches
Definitive Text - EN 163101:1991
Spécification particulière cadre: Circuits intégrés hybride et à couches
Definitive Text - EN 62433-2:2010
Modèles de circuits intégrés pour la CEM - Partie 2: Modèles de circuits intégrés pour la simulation du comportement lors de perturbations électromagnétiques – Modélisation des émissions conduites (ICEM-CE)
Definitive Text - EN 62433-2:2010
Modèles de circuits intégrés pour la CEM - Partie 2: Modèles de circuits intégrés pour la simulation du comportement lors de perturbations électromagnétiques – Modélisation des émissions conduites (ICEM-CE)
Definitive Text - EN 62433-2:2010
Modèles de circuits intégrés pour la CEM - Partie 2: Modèles de circuits intégrés pour la simulation du comportement lors de perturbations électromagnétiques – Modélisation des émissions conduites (ICEM-CE)

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