CENELEC
International Standards and Conformity Assessment
for all electrical, electronic and related technologies
CLC/SR 49 |
Dispositifs piézoélectriques et diélectriques pour la commande et le choix de la fréquence |

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FprEN 60122-3:2009 (pr=22692) Résonateurs à quartz sous assurance de la qualité - Partie 3: Encombrements normalisés et connexions des sorties |
Procedure Result | Yes | |||
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FprEN 60368-3:2009 (pr=22693) Filtres piezoélectriques sous assurance de la qualité - Partie 3: Encombrements normalisés et connexions des sorties |
Procedure Result | Yes | |||
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FprEN 60444-6:2012 (pr=24360) Mesure des paramètres des résonateurs à quartz - Partie 6: Mesure de la dépendance du niveau d'excitation (DNE) |
Procedure Result | Yes | |||
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prEN 60444-9:2006 (pr=16925) Mesure des paramètres des résonateurs à quartz - Partie 9: Mesure des résonances parasites des quartz piézoélectriques |
2007-02-07 | Procedure Result | Yes | ||
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FprEN 60444-11:2009 (pr=22330) Mesure des paramètres des résonateurs à quartz - Partie 11: Méthode normalisée pour la détermination de la fréquence de résonance à la charge fL et de la capacité de charge efficace CLeff utilisant des analyseurs automatiques de réseaux et correction des erreurs |
Procedure Result | Yes | |||
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prEN 60679-1:2007 (pr=16906) Oscillateurs pilotés par quartz sous assurance de la qualité - Partie 1: Spécification générique |
2007-03-26 | Procedure Result | Yes | ||
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FprEN 60679-3:2012 (pr=23625) Oscillateurs pilotés par quartz sous assurance de la qualité - Partie 3: Encombrements normalisés et connexions des sorties |
Procedure Result | Yes | |||
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FprEN 60679-3:2011 (pr=23625) Oscillateurs pilotés par quartz sous assurance de la qualité - Partie 3: Encombrements normalisés et connexions des sorties |
Procedure Result | Yes | |||
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FprEN 60679-3:2011 (pr=23625) Oscillateurs pilotés par quartz sous assurance de la qualité - Partie 3: Encombrements normalisés et connexions des sorties |
Procedure Result | Yes | |||
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FprEN 60679-6:2008 (pr=22046) Oscillateurs pilotés par quartz sous assurance de la qualité - Partie 6: Méthode de mesure de la gigue de phase pour les oscillateurs à quartz et les oscillateurs SAW - Lignes directrices pour l'application |
2009-03-09 | Procedure Result | Yes | ||
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FprEN 60679-6:2010 (pr=22046) Oscillateurs pilotés par quartz sous assurance de la qualité - Partie 6: Méthode de mesure de la gigue de phase pour les oscillateurs à quartz et les oscillateurs SAW - Lignes directrices pour l'application |
Procedure Result | Yes | |||
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prEN 60689:2007 (pr=21475) Méthodes de mesure et d’essai concernant le réglage des résonateurs à quartz dans la plage comprise entre 10 kHz et 200 kHz et valeurs normales |
2008-01-28 | Procedure Result | Yes | ||
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FprEN 60689:2008 (pr=21475) Méthodes de mesure et d’essai concernant le réglage des résonateurs à quartz dans la plage comprise entre 10 kHz et 200 kHz et valeurs normales |
2008-11-04 | Procedure Result | Yes | ||
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FprEN 60758:2008 (pr=21390) Cristal de quartz synthétique - Spécifications et lignes directrices d'utilisation |
2008-10-28 | Procedure Result | Yes | ||
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prEN 60758:2007 (pr=21390) Cristal de quartz synthétique - Spécifications et lignes directrices d'utilisation |
2008-01-02 | Procedure Result | Yes | ||
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FprEN 60862-2:2010 (pr=23260) Filtres à ondes acoustiques de surface (OAS) sous assurance de la qualité - Partie 2: lignes directrices d'utilisation |
Procedure Result | Yes | |||
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FprEN 60862-2:2010 (pr=23260) Filtres à ondes acoustiques de surface (OAS) sous assurance de la qualité - Partie 2: lignes directrices d'utilisation |
Procedure Result | Yes | |||
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FprEN 60862-2:2010 (pr=23260) Filtres à ondes acoustiques de surface (OAS) sous assurance de la qualité - Partie 2: lignes directrices d'utilisation |
Procedure Result | Yes | |||
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FprEN 61240:2011 (pr=23282) Dispositifs piézoélectriques - Préparation des dessins d'encombrement des dispositifs à montage en surface pour la commande et le choix de la fréquence - Règles générales |
Procedure Result | Yes | |||
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FprEN 61240:2012 (pr=23282) Dispositifs piézoélectriques - Préparation des dessins d'encombrement des dispositifs à montage en surface pour la commande et le choix de la fréquence - Règles générales |
Procedure Result | Yes | |||
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FprEN 61837-1:2010 (pr=23253) Dispositifs piézoélectriques à montage en surface pour la commande et le choix de la fréquence - Encombrements normalisés et connexions des sorties - Partie 1: Encombrements des enveloppes en plastique moulées |
Procedure Result | Yes | |||
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FprEN 61837-1:2010 (pr=23253) Dispositifs piézoélectriques à montage en surface pour la commande et le choix de la fréquence - Encombrements normalisés et connexions des sorties - Partie 1: Encombrements des enveloppes en plastique moulées |
Procedure Result | Yes | |||
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FprEN 61837-2:2009 (pr=22678) Dispositifs piézoélectriques à montage en surface pour la commande et le choix de la fréquence - Encombrements normalisés et connexions des sorties - Partie 2: Enveloppes en céramique |
Procedure Result | Yes | |||
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FprEN 62276:2010 (pr=23153) Tranches monocristallines pour applications utilisant des dispositifs à ondes acoustiques de surface (OAS) - Spécifications et méthodes de mesure |
Procedure Result | Yes | |||
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FprEN 62276:2012 (pr=23153) Tranches monocristallines pour applications utilisant des dispositifs à ondes acoustiques de surface (OAS) - Spécifications et méthodes de mesure |
Procedure Result | Yes | |||
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FprEN 62575-2:2011 (pr=23386) Filtres radiofréquences (RF) à ondes acoustiques de volume (OAV) sous assurance de la qualité - Partie 2: Lignes directrices d'emploi |
Procedure Result | Yes | |||
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FprEN 62575-2:2012 (pr=23386) Filtres radiofréquences (RF) à ondes acoustiques de volume (OAV) sous assurance de la qualité - Partie 2: Lignes directrices d'emploi |
Procedure Result | Yes | |||
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FprEN 62604-2:2009 (pr=22691) Duplexeurs à ondes acoustiques de surface (OAS) et à ondes acoustiques de volume (OAV) sous assurance de la qualité - Partie 2: Lignes directrices d'utilisation |
2010-03-29 | Procedure Result | Yes | ||
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FprEN 62604-2:2011 (pr=22691) Duplexeurs à ondes acoustiques de surface (OAS) et à ondes acoustiques de volume (OAV) sous assurance de la qualité - Partie 2: Lignes directrices d'utilisation |
Procedure Result | Yes | |||
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FprEN 62761:2012 (pr=24575) Lignes directrices pour la méthode de mesure des non-linéarités pour les dispositifs à ondes acoustiques de surface (OAS) et à ondes acoustiques de volume (OAV) pour fréquences radioélectriques (RF) |
Procedure Result | Yes |
Référence,Titre | Downloads |
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Definitive Text - EN 60679-1:1998/A2:2003 Oscillateurs pilotés par quartz sous assurance de la qualité - Partie 1: Spécification générique | |
Definitive Text - EN 60444-4:1997 Mesure des paramètres des quartz piézoélectriques par la technique de phase nulle dans le circuit en pi - Partie 4: Méthode pour la mesure de la fréquence de résonance à la charge fL et de la résistance de résonance à la charge RL et pour le calcul des autres valeurs dérivées des quartz piézoélectriques, jusqu'à 30 MHz | |
Definitive Text - EN 60679-5:1998 Oscillateurs pilotés par quartz sous assurance de la qualité - Partie 5: Spécification intermédiaire - Homologation | |
Definitive Text - CECC 69 000:1989/A1:1990 GS: Oscillateurs en cristal à quartz (y compris l'agrément de savoir-faire) | |
Definitive Text - EN 169100:1993 Spécification intermédiaire: Oscillateurs pilotés par quartz (Agrément de savoir-faire) | |
Definitive Text - EN 60862-1:2003 Filtres à ondes acoustiques de surface (OAS) sous assurance de la qualité - Partie 1: Spécification générique | |
Definitive Text - EN 61338-1-4:2006 Résonateurs diélectriques à modes guidés - Partie 1-4: Informations générales et conditions d'essais - Méthode de mesure de la permittivité relative complexe des matériaux des résonateurs diélectriques fonctionnant à des fréquences millimétriques | |
Definitive Text - EN 61338-1-4:2006 Résonateurs diélectriques à modes guidés - Partie 1-4: Informations générales et conditions d'essais - Méthode de mesure de la permittivité relative complexe des matériaux des résonateurs diélectriques fonctionnant à des fréquences millimétriques | |
Definitive Text - EN 61337-1:2004 Filtres utilisant des résonateurs diélectriques à modes guidés - Partie 1: Informations générales | |
Definitive Text - EN 61019-1:2005 Résonateurs à ondes acoustiques de surface (OAS) - Partie 1: Spécification générique | |
Definitive Text - EN 61019-1:2005 Résonateurs à ondes acoustiques de surface (OAS) - Partie 1: Spécification générique | |
Definitive Text - EN 61338-1:2005 Résonateurs diélectriques à modes guidés - Partie 1: Spécification générique | |
Definitive Text - EN 61338-1:2005 Résonateurs diélectriques à modes guidés - Partie 1: Spécification générique | |
Definitive Text - EN 60758:2005 Quartz synthétique - Spécifications et guide d'utilisation | |
Definitive Text - EN 60758:2005 Quartz synthétique - Spécifications et guide d'utilisation | |
Definitive Text - EN 61338-4:2005 Résonateurs diélectriques à modes guidés - Partie 4: Spécification intermédiaire | |
Definitive Text - EN 61837-4:2004 Dispositifs piézoélectriques à montage en surface pour la commande et le choix de la fréquence - Encombrements normalisés et connexions des sorties - Partie 4: Encombrements hybrides | |
Definitive Text - EN 61338-4:2005 Résonateurs diélectriques à modes guidés - Partie 4: Spécification intermédiaire | |
Definitive Text - EN 61019-2:2005 Résonateurs à ondes acoustiques de surface (OAS) - Partie 2: Guide d'emploi | |
Definitive Text - EN 61019-2:2005 Résonateurs à ondes acoustiques de surface (OAS) - Partie 2: Guide d'emploi | |
Definitive Text - EN 168200:1993/A1:1993 Spécification intermédiaire: Résonateurs à quartz (Homologation) | |
Definitive Text - EN 169201:1995 Spécification particulière cadre: Oscillateurs pilotés par quartz (Homologation) | |
Definitive Text - CECC 68 000:1987 GS: Résonateurs à quartz (avec A1) | |
Definitive Text - EN 60862-3:2003 Filtres à ondes acoustiques de surface (OAS) sous assurance de la qualité - Partie 3: Encombrements normalisés | |
Definitive Text - EN 60444-6:1997 Mesure des paramètres des résonateurs à quartz - Partie 6: Mesure de la dépendance du niveau d'excitation (DNE) | |
Definitive Text - EN 61837-3:2000 Dispositifs piézoélectriques à montage en surface pour la commande et le choix de la fréquence - Encombrements normalisés et connexions des sorties - Partie 3: Enveloppes métalliques | |
Definitive Text - EN 61337-1-1:1997 Filtres utilisant des résonateurs diélectriques à modes guidés - Partie 1: Informations générales, valeurs normalisées et conditions d'essais - Section 1: Informations générales et valeurs normalisées | |
Definitive Text - EN 167000:1993/A1:1997 Spécification générique: Filtres piézoélectriques | |
Definitive Text - EN 61338-2:2004 Résonateurs diélectriques à modes guidés - Partie 2: Guide pour l'application aux filtres et aux oscillateurs | |
Definitive Text - EN 171000:2001 Spécification générique: Filtres utilisant des résonateurs diélectriques à modes guidés | |
Definitive Text - EN 60368-4:2000 Filtres piézoélectriques sous assurance de la qualité - Partie 4: Spécification intermédiaire - Agrément de savoir-faire | |
Definitive Text - EN 61837-1:1999 Dispositifs piézoélectriques à montage en surface pour la commande et le choix de la fréquence - Encombrements normalisés et connexions des sorties - Partie 1: Encombrements des enveloppes en plastique moulées | |
Definitive Text - EN 168100:1993 Spécification intermédiaire: Résonateurs à quartz (Agrément de savoir-faire) | |
Definitive Text - EN 50324-2:2002 Propriétés piézoélectriques des matériaux et composants en céramique - Partie 2: Méthodes de mesure - Faible puissance | |
Definitive Text - EN 50324-3:2002 Propriétés piézo-électriques des matériaux et composants céramiques - Partie 3: Méthodes de mesure - Grande puissance | |
Definitive Text - EN 61338-1-3:2000 Résonateurs diélectriques à modes guidés - Partie 1-3: Informations générales et conditions d'essais - Méthode de mesure de la permittivité relative complexe des matériaux diélectriques pour les résonateurs diélectriques fonctionnant aux hyperfréquences | |
Definitive Text - EN 170000:1999 Spécification générique: Résonateurs diélectriques à modes guidés | |
Definitive Text - EN 170100:2001 Spécification intermédiaire: Résonateurs diélectriques à modes guidés | |
Definitive Text - EN 60679-5-1:1998 Oscillateurs pilotés par quartz sous assurance de la qualité - Partie 5-1: Spécification particulière cadre - Homologation | |
Definitive Text - EN 60368-2-2:1999 Filtres piézoélectriques - Partie 2: Guide d'emploi des filtres piézoélectriques - Section 2: Filtres à céramique piézoélectrique | |
Definitive Text - EN 61019-2:1997 Résonateurs à ondes acoustiques de surface (OAS) - Partie 2: Guide d'emploi | |
Definitive Text - EN 60444-3:1997 Mesure des paramètres des quartz piézoélectriques par la technique de phase nulle dans le circuit en pi - Partie 3: Méthode fondamentale pour la mesure des paramètres à deux pôles des résonateurs à quartz à la fréquence jusqu'à 200 MHz par la technique de phase dans le circuit en pi avec compensation de la capacité parallèle C0 | |
Definitive Text - EN 60444-2:1997 Mesure des paramètres des quartz piézoélectriques par la technique de phase nulle dans le circuit en pi - Partie 2: Méthode de décalage de phase pour la mesure de la capacité dynamique des quartz | |
Definitive Text - EN 60444-1:1997 Mesure des paramètres des quartz piézoélectriques par la technique de phase nulle dans le circuit en pi - Partie 1: Méthode fondamentale pour la mesure de la fréquence de résonance et de la résistance de résonance des quartz piézoélectriques par la technique de phase nulle dans le circuit en pi | |
Definitive Text - EN 60679-1:1998 Oscillateurs pilotés par quartz sous assurance de la qualité - Partie 1: Spécification générique | |
Definitive Text - EN 168000:1993 Spécification générique: Résonateurs à quartz | |
Definitive Text - EN 168101:1992 SPC: Resonateurs à quartz | |
Definitive Text - EN 168200:1993 Spécification intermédiaire: Résonateurs à quartz (Homologation) | |
Definitive Text - EN 60679-4:1998 Oscillateurs pilotés par quartz sous assurance de la qualité - Partie 4: Spécification intermédiaire - Agrément de savoir-faire | |
Definitive Text - EN 60444-5:1997 Mesure des paramètres des résonateurs à quartz - Partie 5: Méthodes pour la détermination des paramètres électriques équivalents utilisant des analyseurs automatiques de réseaux et correction des erreurs | |
Definitive Text - EN 168201:1992 Spécification particulière cadre: Résonateurs à quartz (Homologation) | |
Definitive Text - EN 169000:1992 Spécification générique: Oscillateurs pilotes par quartz | |
Definitive Text - EN 60368-4-1:2000 Filtres piézoélectriques sous assurance de la qualité - Partie 4-1: Spécification particulière cadre - Agrément de savoir-faire | |
Definitive Text - EN 60368-1:2000 Filtres piézoélectriques sous assurance de la qualité - Partie 1: Spécification générique | |
Definitive Text - EN 60679-1:1998/A1:2002 Oscillateurs pilotés par quartz sous assurance de la qualité - Partie 1: Spécification générique | |
Definitive Text - EN 60444-8:2003 Mesure des paramètres des résonateurs à quartz - Partie 8: Dispositif d'essai pour les résonateurs à quartz montés en surface | |
Definitive Text - EN 60444-8:2003 Mesure des paramètres des résonateurs à quartz - Partie 8: Dispositif d'essai pour les résonateurs à quartz montés en surface | |
Definitive Text - EN 60444-8:2003 Mesure des paramètres des résonateurs à quartz - Partie 8: Dispositif d'essai pour les résonateurs à quartz montés en surface | |
Definitive Text - EN 60122-1:2002 Résonateurs à quartz sous assurance de la qualité - Partie 1: Spécification générique | |
Definitive Text - EN 60444-1:1997/A1:1999 Mesure des paramètres des quartz piézoélectriques par la technique de phase nulle dans le circuit en pi - Partie 1: Méthode fondamentale pour la mesure de la fréquence de résonance et de la résistance de résonance des quartz piézoélectriques par la technique de phase nulle dans le circuit en pi | |
Definitive Text - EN 170101:2001 Spécification particulière cadre: Résonateurs diélectriques à modes guidés - Agrément de savoir-faire | |
Definitive Text - EN 50324-1:2002 Propriétés piézoélectriques des matériaux et composants en céramique - Partie 1: Termes et définitions | |
Definitive Text - CECC 68 200:1990 SS: Résonateurs à quartz - Homologation | |
Definitive Text - EN 61337-2:2004 Filtres utilisant des résonateurs diélectriques à modes guidés - Partie 2: Guide d'utilisation | |
Definitive Text - CECC 68 100:1989 SS: Résonateurs à quartz - Agrément de Savoir-faire (avec A1 + erratum) | |
Definitive Text - CECC 68 100:1989/A1:1988 SS: Résonateurs à quartz - Agrément de Savoir-faire (avec A1 + erratum) | |
Definitive Text - EN 166000:1995 Spécification générique: Filtres à ondes acoustiques de surface (OAS) | |
Definitive Text - EN 166100:1998 Spécification intermédiaire: Filtres à ondes acoustiques de surface (OAS) | |
Definitive Text - EN 166101:1999 Spécification particulière cadre: Filtres à Ondes Acoustiques de Surface (OAS) - Agrément de savoir-faire | |
Definitive Text - CECC 69 000:1989 GS: Oscillateurs en cristal à quartz (y compris l'agrément de savoir-faire) | |
Definitive Text - EN 169200:1995 Spécification intermédiaire: Oscillateurs pilotés par Quartz (Homologation) | |
Definitive Text - EN 167100:1995 Spécification intermédiaire: Filtres piézoélectriques (Agrément de savoir-faire) | |
Definitive Text - EN 167101:1995 Spécification particulière cadre: Filtres piézoélectriques (Agrément de savoir-faire) | |
Definitive Text - CECC 68 000:1987/A1:1989 GS: Résonateurs à quartz (avec A1) | |
Definitive Text - EN 168000:1993/A2:1998 Spécification générique: Résonateurs à quartz | |
Definitive Text - EN 167000:1993 Spécification générique: Filtres piézoélectriques | |
Definitive Text - EN 61338-4-1:2005 Résonateurs diélectriques à modes guidés - Partie 4-1: Spécification particulière cadre | |
Definitive Text - EN 60368-1:2000/A1:2004 Filtres piézoélectriques sous assurance de la qualité - Partie 1: Spécification générique | |
Definitive Text - EN 60368-1:2000/A1:2004 Filtres piézoélectriques sous assurance de la qualité - Partie 1: Spécification générique | |
Definitive Text - EN 60444-7:2004 Mesure des paramètres des résonateurs à quartz - Partie 7: Mesure des crevasses de l'activité et de la fréquence des résonateurs à quartz | |
Definitive Text - EN 60689:2009 Méthodes de mesure et d’essai concernant le réglage des résonateurs à quartz dans la plage comprise entre 10 kHz et 200 kHz et valeurs normales | |
Definitive Text - EN 60689:2009 Méthodes de mesure et d’essai concernant le réglage des résonateurs à quartz dans la plage comprise entre 10 kHz et 200 kHz et valeurs normales | |
Definitive Text - EN 60679-4-1:1998 Oscillateurs pilotés par quartz sous assurance de la qualité - Partie 4-1: Spécification particulière cadre - Agrément de savoir-faire | |
Definitive Text - EN 169101:1993 Spécification particulière cadre: Oscillateurs pilotés par quartz (Agrément de savoir-faire) | |
Definitive Text - EN 169000:1992/A1:1998 Spécification générique: Oscillateurs pilotes par quartz | |
Definitive Text - EN 60862-2:2012 Filtres à ondes acoustiques de surface (OAS) sous assurance de la qualité - Partie 2: lignes directrices d'utilisation | |
Definitive Text - EN 60862-2:2012 Filtres à ondes acoustiques de surface (OAS) sous assurance de la qualité - Partie 2: lignes directrices d'utilisation | |
Definitive Text - EN 60368-4-1:2000/corrigendum Feb. 2001 Filtres piézoélectriques sous assurance de la qualité - Partie 4-1: Spécification particulière cadre - Agrément de savoir-faire | |
Definitive Text - EN 60368-4-1:2000/corrigendum Feb. 2001 Filtres piézoélectriques sous assurance de la qualité - Partie 4-1: Spécification particulière cadre - Agrément de savoir-faire | |
Definitive Text - EN 60368-4-1:2000/corrigendum Feb. 2001 Filtres piézoélectriques sous assurance de la qualité - Partie 4-1: Spécification particulière cadre - Agrément de savoir-faire | |
Definitive Text - EN 60368-4:2000/corrigendum Feb. 2001 Filtres piézoélectriques sous assurance de la qualité - Partie 4: Spécification intermédiaire - Agrément de savoir-faire | |
Definitive Text - EN 60368-4:2000/corrigendum Feb. 2001 Filtres piézoélectriques sous assurance de la qualité - Partie 4: Spécification intermédiaire - Agrément de savoir-faire | |
Definitive Text - EN 60368-4:2000/corrigendum Feb. 2001 Filtres piézoélectriques sous assurance de la qualité - Partie 4: Spécification intermédiaire - Agrément de savoir-faire | |
Definitive Text - EN 60368-1:2000/corrigendum Feb. 2001 Filtres piézoélectriques sous assurance de la qualité - Partie 1: Spécification générique | |
Definitive Text - EN 60368-1:2000/corrigendum Feb. 2001 Filtres piézoélectriques sous assurance de la qualité - Partie 1: Spécification générique | |
Definitive Text - EN 60368-1:2000/corrigendum Feb. 2001 Filtres piézoélectriques sous assurance de la qualité - Partie 1: Spécification générique | |
Definitive Text - EN 62276:2013 Tranches monocristallines pour applications utilisant des dispositifs à ondes acoustiques de surface (OAS) - Spécifications et méthodes de mesure | |
Definitive Text - EN 62276:2013 Tranches monocristallines pour applications utilisant des dispositifs à ondes acoustiques de surface (OAS) - Spécifications et méthodes de mesure | |
Definitive Text - EN 62276:2013 Tranches monocristallines pour applications utilisant des dispositifs à ondes acoustiques de surface (OAS) - Spécifications et méthodes de mesure | |
Definitive Text - EN 60368-3:2001 Filtres piézoélectriques sous assurance de la qualité - Partie 3: Encombrements normalisés et connexions des sorties | |
Definitive Text - EN 60122-3:2001 Résonateurs à quartz sous assurance de la qualité - Partie 3: Encombrements normalisés et connexions des sorties | |
Definitive Text - EN 61338-1-4:2006/corrigendum Nov. 2006 Résonateurs diélectriques à modes guidés - Partie 1-4: Informations générales et conditions d'essais - Méthode de mesure de la permittivité relative complexe des matériaux des résonateurs diélectriques fonctionnant à des fréquences millimétriques | |
Definitive Text - EN 61338-1-4:2006/corrigendum Nov. 2006 Résonateurs diélectriques à modes guidés - Partie 1-4: Informations générales et conditions d'essais - Méthode de mesure de la permittivité relative complexe des matériaux des résonateurs diélectriques fonctionnant à des fréquences millimétriques | |
Definitive Text - EN 61837-2:2000 Dispositifs piézoélectriques à montage en surface pour la commande et le choix de la fréquence - Encombrements normalisés et connexions des sorties - Partie 2: Enveloppes en céramique | |
Definitive Text - EN 60122-3:2010 Résonateurs à quartz sous assurance de la qualité - Partie 3: Encombrements normalisés et connexions des sorties | |
Definitive Text - EN 60122-3:2010 Résonateurs à quartz sous assurance de la qualité - Partie 3: Encombrements normalisés et connexions des sorties | |
Definitive Text - EN 60122-3:2010 Résonateurs à quartz sous assurance de la qualité - Partie 3: Encombrements normalisés et connexions des sorties | |
Definitive Text - EN 60368-3:2010 Filtres piezoélectriques sous assurance de la qualité - Partie 3: Encombrements normalisés et connexions des sorties | |
Definitive Text - EN 60368-3:2010 Filtres piezoélectriques sous assurance de la qualité - Partie 3: Encombrements normalisés et connexions des sorties | |
Definitive Text - EN 60368-3:2010 Filtres piezoélectriques sous assurance de la qualité - Partie 3: Encombrements normalisés et connexions des sorties | |
Definitive Text - EN 60444-11:2010 Mesure des paramètres des résonateurs à quartz - Partie 11: Méthode normalisée pour la détermination de la fréquence de résonance à la charge fL et de la capacité de charge efficace CLeff utilisant des analyseurs automatiques de réseaux et correction des erreurs | |
Definitive Text - EN 60444-11:2010 Mesure des paramètres des résonateurs à quartz - Partie 11: Méthode normalisée pour la détermination de la fréquence de résonance à la charge fL et de la capacité de charge efficace CLeff utilisant des analyseurs automatiques de réseaux et correction des erreurs | |
Definitive Text - EN 60444-11:2010 Mesure des paramètres des résonateurs à quartz - Partie 11: Méthode normalisée pour la détermination de la fréquence de résonance à la charge fL et de la capacité de charge efficace CLeff utilisant des analyseurs automatiques de réseaux et correction des erreurs | |
Definitive Text - EN 60444-9:2007 Mesure des paramètres des résonateurs à quartz - Partie 9: Mesure des résonances parasites des quartz piézoélectriques | |
Definitive Text - EN 60444-9:2007 Mesure des paramètres des résonateurs à quartz - Partie 9: Mesure des résonances parasites des quartz piézoélectriques | |
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