CENELEC
International Standards and Conformity Assessment
for all electrical, electronic and related technologies
CLC/SR 86 |
Berichtersekretariate SR 86 |
CLC/SR 86 Arbeitspapiere
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Verweis,Titel
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Downloads
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Circulation date
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Termin
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Abstimmung / Einspruche
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IEC parallele Abstimmung
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FprEN 61746-1:2008 (pr=22133) Kalibrierung optischer Rückstreumessgeräte (OTDR) - Teil 1: OTDR für Einmodenfasern |
 EN |
2009-05-04 | Procedure Result | Yes | |
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FprEN 61746-1:2009 (pr=22133) Kalibrierung optischer Rückstreumessgeräte (OTDR) - Teil 1: OTDR für Einmodenfasern |
EN |
Procedure Result | Yes | ||
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FprEN 61746-2:2009 (pr=22508) Kalibrierung optischer Rückstreumessgeräte (OTDR) - Teil 2: OTDR für Mehrmodenfasern |
EN |
Procedure Result | Yes | ||
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FprEN 62129-2:2010 (pr=22821) Kalibrierung von Messgeräten für die Wellenlänge/optische Frequenz - Teil 2: Michelson-Interferometer-Einzelwellenlängen-Messgeräte |
EN |
Procedure Result | Yes | ||
|
FprEN 62129-2:2011 (pr=22821) Kalibrierung von Messgeräten für die Wellenlänge/optische Frequenz - Teil 2: Michelson-Interferometer-Einzelwellenlängen-Messgeräte |
EN |
Procedure Result | Yes | ||
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prEN 62496-1:2007 (pr=21376) Optische Leiterplatten - Teil 1: Fachgrundspezifikation |
EN |
2007-12-18 | Procedure Result | Yes | |
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FprEN 62496-1:2008 (pr=21376) Optische Leiterplatten - Teil 1: Fachgrundspezifikation |
EN |
2008-11-04 | Procedure Result | Yes | |
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FprEN 62496-2-1:2010 (pr=22822) Optische Leiterplatten - Teil 2-1: Messungen - Optische Dämpfung und Isolation |
EN |
Procedure Result | Yes | ||
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FprEN 62496-2-1:2011 (pr=22822) Optische Leiterplatten - Teil 2-1: Messungen - Optische Dämpfung und Isolation |
EN |
Procedure Result | Yes | ||
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FprEN 62496-2-2:2010 (pr=22729) Optische Leiterplatten - Teil 2-2: Messungen - Abmessungen optischer Leiterplatten |
EN |
Procedure Result | Yes | ||
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FprEN 62496-2-2:2009 (pr=22729) Optische Leiterplatten - Teil 2-2: Messungen - Abmessungen optischer Leiterplatten |
EN |
Procedure Result | Yes | ||
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FprEN 62496-2-4:2013 (pr=24291) Optische Leiterplatten - Grundlegende Prüf- und Messverfahren – Teil 2-4: Optische Übertragungsprüfung für optische Leiterplatten ohne Eingangs-/Ausgangsfasern |
EN |
Procedure Result | Yes | ||
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FprEN 62496-2-4:2012 (pr=24291) Optische Leiterplatten - Grundlegende Prüf- und Messverfahren – Teil 2-4: Optische Übertragungsprüfung für optische Leiterplatten ohne Eingangs-/Ausgangsfasern |
EN |
Procedure Result | Yes | ||
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FprEN 62496-3:2010 (pr=22717) Optische Leiterplatten - Teil 3: Betriebsverhalten - Allgemeines und Leitfaden |
EN |
Procedure Result | Yes | ||
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FprEN 62496-3:2009 (pr=22717) Optische Leiterplatten - Teil 3: Betriebsverhalten - Allgemeines und Leitfaden |
EN |
Procedure Result | Yes | ||
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FprEN 62496-3-1:2008 (pr=22154) Optische Leiterplatten - Betriebsverhalten - Teil 3-1: Flexible optische Leiterplatten mit nicht steckbaren Lichtwellenleitern |
EN |
2009-06-19 | Procedure Result | Yes | |
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FprEN 62496-4:2009 (pr=22718) Optische Leiterplatten - Teil 4: Schnittstellennormen - Allgemeines und Leitfaden |
EN |
Procedure Result | Yes | ||
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FprEN 62496-4:2010 (pr=22718) Optische Leiterplatten - Teil 4: Schnittstellennormen - Allgemeines und Leitfaden |
EN |
Procedure Result | Yes | ||
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FprEN 62614:2009 (pr=22443) Lichtwellenleiter - Anforderungen an die Anregungsbedingungen für Mehrmoden-Dämpfungsmessungen |
EN |
2009-11-02 | Procedure Result | Yes | |
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FprEN 62614:2010 (pr=22443) Lichtwellenleiter - Anforderungen an die Anregungsbedingungen für Mehrmoden-Dämpfungsmessungen |
EN |
Procedure Result | Yes |
CLC/SR 86 Dokumente unter Abstimmung
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Verweis,Titel
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Downloads
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Circulation date
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Termin
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Type
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IEC parallele Abstimmung
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Sonstige Dokumente accessible to CLC/SR 86
Verweis,Titel | Downloads |
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Definitive Text - EN 62129:2006 Kalibrierung von optischen Spektrumanalysatoren |  |
Definitive Text - EN 62129-2:2011 Kalibrierung von Messgeräten für die Wellenlänge/optische Frequenz - Teil 2: Michelson-Interferometer-Einzelwellenlängen-Messgeräte | |
Definitive Text - EN 62129:2006 Kalibrierung von optischen Spektrumanalysatoren | |
Definitive Text - EN 61744:2005 Kalibrierung von Prüfaufbauten zur Bestimmung der chromatischen Dispersion | |
Definitive Text - EN 61744:2005 Kalibrierung von Prüfaufbauten zur Bestimmung der chromatischen Dispersion | |
Definitive Text - EN 61315:2006 Kalibrierung von Lichtwellenleiter-Leistungsmessern | |
Definitive Text - EN 61315:2006 Kalibrierung von Lichtwellenleiter-Leistungsmessern | |
Definitive Text - EN 61315:2006 Kalibrierung von Lichtwellenleiter-Leistungsmessern | |
Definitive Text - EN 62007-1:2000 Optoelektronische Halbleiterbauelemente für faseroptische Systemanwendungen - Teil 1: Wesentliche Grenz- und Kennwerte | |
Definitive Text - EN 61746:2001 Kalibrierung optischer Rückstreumessgeräte (OTDR) | |
Definitive Text - EN 62007-2:2000 Optoelektronische Halbleiterbauelemente für faseroptische Systemanwendungen - Teil 2: Meßverfahren | |
Definitive Text - EN 61751:1998 Lasermodule für Telekommunikationsanwendungen - Zuverläsigkeitsbewertung | |
Definitive Text - EN 61744:2001 Kalibrierung von Prüf-Aufbauten zur Bestimmung der chromatischen Dispersion | |
Definitive Text - EN 62496-1:2009 Optische Leiterplatten - Teil 1: Fachgrundspezifikation | |
Definitive Text - EN 62496-1:2009 Optische Leiterplatten - Teil 1: Fachgrundspezifikation | |
Definitive Text - EN 62496-1:2009 Optische Leiterplatten - Teil 1: Fachgrundspezifikation | |
Definitive Text - EN 62614:2010 Lichtwellenleiter - Anforderungen an die Anregungsbedingungen für Mehrmoden-Dämpfungsmessungen | |
Definitive Text - EN 62614:2010 Lichtwellenleiter - Anforderungen an die Anregungsbedingungen für Mehrmoden-Dämpfungsmessungen | |
Definitive Text - EN 62614:2010 Lichtwellenleiter - Anforderungen an die Anregungsbedingungen für Mehrmoden-Dämpfungsmessungen | |
Definitive Text - EN 61746-1:2011 Kalibrierung optischer Rückstreumessgeräte (OTDR) - Teil 1: OTDR für Einmodenfasern | |
Definitive Text - EN 61746-1:2011 Kalibrierung optischer Rückstreumessgeräte (OTDR) - Teil 1: OTDR für Einmodenfasern | |
Definitive Text - EN 61746-1:2011 Kalibrierung optischer Rückstreumessgeräte (OTDR) - Teil 1: OTDR für Einmodenfasern | |
Definitive Text - EN 62496-3:2011 Optische Leiterplatten - Teil 3: Betriebsverhalten - Allgemeines und Leitfaden | |
Definitive Text - EN 62496-3:2011 Optische Leiterplatten - Teil 3: Betriebsverhalten - Allgemeines und Leitfaden | |
Definitive Text - EN 62496-3:2011 Optische Leiterplatten - Teil 3: Betriebsverhalten - Allgemeines und Leitfaden | |
Definitive Text - EN 62496-4:2011 Optische Leiterplatten - Teil 4: Schnittstellennormen - Allgemeines und Leitfaden | |
Definitive Text - EN 62496-4:2011 Optische Leiterplatten - Teil 4: Schnittstellennormen - Allgemeines und Leitfaden | |
Definitive Text - EN 62496-4:2011 Optische Leiterplatten - Teil 4: Schnittstellennormen - Allgemeines und Leitfaden | |
Definitive Text - EN 62496-2-2:2011 Optische Leiterplatten - Teil 2-2: Messungen - Abmessungen optischer Leiterplatten | |
Definitive Text - EN 62496-2-2:2011 Optische Leiterplatten - Teil 2-2: Messungen - Abmessungen optischer Leiterplatten | |
Definitive Text - EN 62496-2-2:2011 Optische Leiterplatten - Teil 2-2: Messungen - Abmessungen optischer Leiterplatten | |
Definitive Text - EN 62129:2006/corrigendum Dec. 2006 Kalibrierung von optischen Spektrumanalysatoren | |
Definitive Text - EN 62129:2006/corrigendum Dec. 2006 Kalibrierung von optischen Spektrumanalysatoren | |
Definitive Text - EN 62129:2006/corrigendum Dec. 2006 Kalibrierung von optischen Spektrumanalysatoren | |
Definitive Text - EN 61746:2005 Kalibirerung optischer Rückstreumessgeräte (OTDR) | |
Definitive Text - EN 61746:2005 Kalibirerung optischer Rückstreumessgeräte (OTDR) | |
Definitive Text - EN 61746:2005 Kalibirerung optischer Rückstreumessgeräte (OTDR) | |
Definitive Text - EN 62496-3-1:2010 Optische Leiterplatten - Betriebsverhalten - Teil 3-1: Flexible optische Leiterplatten mit nicht steckbaren Lichtwellenleitern | |
Definitive Text - EN 62496-3-1:2010 Optische Leiterplatten - Betriebsverhalten - Teil 3-1: Flexible optische Leiterplatten mit nicht steckbaren Lichtwellenleitern | |
Definitive Text - EN 62496-3-1:2010 Optische Leiterplatten - Betriebsverhalten - Teil 3-1: Flexible optische Leiterplatten mit nicht steckbaren Lichtwellenleitern | |
Definitive Text - EN 61746-2:2011 Kalibrierung optischer Rückstreumessgeräte (OTDR) - Teil 2: OTDR für Mehrmodenfasern | |
Definitive Text - EN 61746-2:2011 Kalibrierung optischer Rückstreumessgeräte (OTDR) - Teil 2: OTDR für Mehrmodenfasern | |
Definitive Text - EN 61746-2:2011 Kalibrierung optischer Rückstreumessgeräte (OTDR) - Teil 2: OTDR für Mehrmodenfasern | |
Definitive Text - EN 62496-2-1:2011 Optische Leiterplatten - Teil 2-1: Messungen - Optische Dämpfung und Isolation | |
Definitive Text - EN 62496-2-1:2011 Optische Leiterplatten - Teil 2-1: Messungen - Optische Dämpfung und Isolation | |
Definitive Text - EN 62496-2-1:2011 Optische Leiterplatten - Teil 2-1: Messungen - Optische Dämpfung und Isolation | |
Definitive Text - EN 62129-2:2011 Kalibrierung von Messgeräten für die Wellenlänge/optische Frequenz - Teil 2: Michelson-Interferometer-Einzelwellenlängen-Messgeräte | |
Definitive Text - EN 62129-2:2011 Kalibrierung von Messgeräten für die Wellenlänge/optische Frequenz - Teil 2: Michelson-Interferometer-Einzelwellenlängen-Messgeräte | |
Definitive Text - EN 62129:2006 Kalibrierung von optischen Spektrumanalysatoren | |
