Numéro de publication | Date de Publication | Date de révision | Date de résultat | Comité Technique | Projet en cours |
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EN 62047-10:2011 (pr=23075) Dispositifs à semiconducteur - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 10: Essai de compression utilisant la technique des micro-piliers pour les matériaux des MEMS | 2011-09-09 | | 2019-09-09 | CLC/SR 47F | |
EN 62047-12:2011 (pr=23076) Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 12: Méthode d'essai de fatigue en flexion des matériaux en couche mince utilisant les vibrations à la résonance des structures à systèmes microélectromécaniques (MEMS) | 2011-10-21 | | 2019-10-21 | CLC/SR 47F | |
EN 62047-13:2012 (pr=23280) Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 13: Méthodes d'essais de types courbure et cisaillement de mesure de la résistance d'adhérence pour les structures MEMS | 2012-04-06 | | 2020-04-06 | CLC/SR 47F | |
EN 62047-14:2012 (pr=23220) Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 14: Méthode de mesure des limites de formage des matériaux à couche métallique | 2012-04-06 | | 2020-04-06 | CLC/SR 47F | |
EN 62047-5:2011 (pr=22629) Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 5: Commutateurs MEMS-RF | 2011-08-19 | | 2019-08-19 | CLC/SR 47F | |
EN 62047-6:2010 (pr=21554) Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 6: Méthodes d'essais de fatigue axiale des matériaux en couche mince | 2010-03-05 | | 2018-03-05 | CLC/SR 47F | |
EN 62047-7:2011 (pr=22658) Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 7: Filtre et duplexeur BAW MEMS pour la commande et le choix des fréquences radioélectriques | 2011-08-05 | | 2019-08-05 | CLC/SR 47F | |
EN 62047-8:2011 (pr=22628) Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 8: Méthode d'essai de la flexion de bandes en vue de la mesure des propriétés de traction des couches minces | 2011-05-06 | | 2019-05-06 | CLC/SR 47F | |
EN 62047-9:2011 (pr=22644) Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 9: Mesure de la résistance de collage de deux plaquettes pour les MEMS | 2011-08-19 | | 2019-08-19 | CLC/SR 47F | |