CENELEC
Projet
| Reference | EN 60749-7:2011 |
|---|---|
| Title | Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 7: Mesure de la teneur en humidité interne et analyse des autres gaz résiduels |
| Project Number | 22606 |
| Abstract/Scope | La CEI 60749-7:2011 spécifie les essais et les mesures de la teneur en vapeur d'eau et en autres gaz de l'atmosphère à l'intérieur d'un dispositif métallique ou céramique scellé hermétiquement. L'essai est utilisé en tant que mesure de la qualité du procédé de scellement et en vue de fournir des informations sur la stabilité chimique à long terme de l'atmosphère à l'intérieur du boîtier. Il est applicable à tous les dispositifs à semiconducteurs scellés de cette manière mais généralement réservés pour les applications à haute fiabilité comme dans les domaines militaire et spatial. Le présent essai est destructif. Cette deuxième édition annule et remplace la première édition parue en 2002, dont elle constitue une révision technique. Cette seconde édition a été complètement remaniée de manière à l'aligner sur le texte des dernières versions de la MIL-STD-750, méthode 1018 et la MIL-STD-883, méthode 1018. La modification principale est la suppression des deux méthodes alternatives, anciennement désignées méthode 2 et méthode 3. |
| Status |
Published
|
Statut
| Current Stage code | 6060 |
|---|---|
| Current Stage code date | 2011-09-09 |
| Current Stage code deadline | 2012-04-22 |
| Deadline date for vote |
Légal
| Directive(s) | |
|---|---|
| Mandate(s) | |
| Order Voucher |
Détails
| IEC Technical Body | IEC/TC 47 |
|---|---|
| Reference Document | IEC 60749-7:2011 (EQV) |
| ICS | 31.080.01 - Semiconductor devices in general |
| Keywords | |
| Note | Supersedes EN 60749-7:2002 |
| A-Deviation(s) | |
| Special National Condition(s) |
Environnement
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Clause
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Categories - Aspects
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Cycle de vie du produit
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Information
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|---|
Histoire
Dates de mise en application
| date of Ratification (DOR) (1) | 2011-07-22 |
|---|---|
| date of Availability (DAV) (2) | 2011-09-09 |
| date of Announcement (DOA) (3) | 2011-10-22 |
| date of Publication (DOP) (4) | 2012-04-22 |
| date of Withdrawal (DOW) (5) | 2014-07-22 |
Rélations
| Supersedes | EN 60749-7:2002 |
|---|---|
| Superseded by | |
| Normative reference (6) |
(1) Date of ratification (dor) date when the Technical Board notes the approval of an EN (and HD for CENELEC), from which time the standard may be said to be approved
(2) Date of availability (dav) date when the definitive text in the official language versions of an approved CEN/CENELEC publication is distributed by the Central Secretariat
(3) Date of announcement (doa) latest date by which the existence of an EN (and HD for CENELEC), a TS or a CWA has to be announced at national level
(4) Date of publication (dop) latest date by which an EN has to be implemented at national level by publication of an identical national standard or by endorsement
(5) Date of withdrawal (dow) latest date by which national standards conflicting with an EN (and HD for CENELEC) have to be withdrawn
(6) This list of normative references is purely indicative. The only official list of normative reference is the list of the published standard.
