International Standards and Conformity Assessment for all electrical, electronic and related technologies

 

Projet

Reference EN 61967-2:2005
Title Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz - Partie 2: Mesure des émissions rayonnées - Méthode de cellule TEM et cellule TEM à large bande
Project Number 16243
Abstract/Scope La présente procédure de mesure définit une méthode de mesure du rayonnement électromagnétique provenant d'un circuit intégré (CI). Le CI évalué est monté sur une carte de circuit imprimé (PCB) d'essai de CI qui est fixée sur un accès d'accouplement (désigné comme accès à la paroi) découpé au sommet ou au fond d'une cellule électromagnétique transverse (TEM, transverse electromagnetic) ou d'une cellule TEM en gigahertz (GTEM) à large bande. La carte d'essai n'est pas à l'intérieur de la cellule, comme dans l'usage conventionnel, mais devient une partie de la paroi de la cellule. Cette méthode est applicable à toute cellule TEM ou GTEM modifiée pour incorporer l'accès à la paroi; cependant, la tension RF mesurée sera affectée par de nombreux facteurs. Le facteur principal affectant la tension RF mesurée est l'espacement entre le diaphragme et la carte d'essai du CI (paroi de la cellule). Cette procédure a été élaborée à l'aide d'une cellule TEM de 1 GHz avec un espacement entre le diaphragme et le sol de 45 mm et d'une cellule GTEM avec un espacement moyen entre le diaphragme et le sol de 45 mm au-dessus de la zone de l'accès. D'autres cellules peuvent ne pas produire de sortie spectrale identique, mais peuvent être utilisées pour des mesures comparatives, soumises à leurs limites en fréquence et en sensibilité. Un facteur de conversion peut permettre des comparaisons entre les données mesurées sur les cellules TEM ou GTEM avec un espacement différent entre le diaphragme et le sol. La carte d'essai du CI contrôle la géométrie et l'orientation du CI en fonctionnement par rapport à la cellule et élimine tous les conducteurs de connexion à l'intérieur de la cellule (ceux-ci se situent sur la face arrière de la carte, qui est à l'extérieur de la cellule). Pour la cellule TEM, l'un des accès de 50 est terminé par une charge de 50 . L'autre accès de 50 pour une cellule TEM, ou le seul accès de 50 pour une cellule GTEM, est connecté à l'entrée d'un analyseur de sp
Status
Published

Statut

Current Stage code 6060
Current Stage code date 2005-10-25
Current Stage code deadline 2006-07-01
Deadline date for vote  

Légal

Directive(s)  
Mandate(s)  
Order Voucher  

Détails

IEC Technical Body IEC/SC 47A
Reference Document IEC 61967-2:2005 (EQV)
ICS 31.080.99 - Other semiconductor devices
Keywords  
Note To be read in conjunction with EN 61967-1:2002
A-Deviation(s)  
Special National Condition(s)  

Environnement

Clause
Categories - Aspects
Cycle de vie du produit
Information

Histoire

Stage
Date
Deadline Date
Documents
6060 2005-10-25 2006-07-01 export to doc file  EN  FR  DE
5099 2005-09-01 2006-01-01  
5020 2005-05-13 2005-07-15  
4099 2004-12-03 2005-06-30  
4060 2004-09-03 2004-09-30  
4020 2004-03-12 2004-08-13  
3099 2004-03-09 2004-03-12  

Dates de mise en application

date of Ratification (DOR) (1) 2005-09-01
date of Availability (DAV) (2) 2005-10-25
date of Announcement (DOA) (3) 2006-01-01
date of Publication (DOP) (4) 2006-07-01
date of Withdrawal (DOW) (5) 2008-09-01

Rélations

Supersedes  
Superseded by  
Normative reference (6) IEC 60050-131:2002
IEC 60050-161:1990
EN 61967-1:2002

(1) Date of ratification (dor) date when the Technical Board notes the approval of an EN (and HD for CENELEC), from which time the standard may be said to be approved


(2) Date of availability (dav) date when the definitive text in the official language versions of an approved CEN/CENELEC publication is distributed by the Central Secretariat


(3) Date of announcement (doa) latest date by which the existence of an EN (and HD for CENELEC), a TS or a CWA has to be announced at national level


(4) Date of publication (dop) latest date by which an EN has to be implemented at national level by publication of an identical national standard or by endorsement


(5) Date of withdrawal (dow) latest date by which national standards conflicting with an EN (and HD for CENELEC) have to be withdrawn


(6) This list of normative references is purely indicative. The only official list of normative reference is the list of the published standard.