International Standards and Conformity Assessment for all electrical, electronic and related technologies

 

Projet

Reference EN 55017:2011
Title Méthodes de mesure des caractéristiques d'antiparasitage des dispositifs de filtrage CEM passifs
Project Number 22839
Abstract/Scope La CISPR 17:2011 spécifie les méthodes de mesure des caractéristiques d'antiparasitage des perturbations radioélectriques des dispositifs de filtrage CEM passifs utilisés dans les lignes électriques et de transmission de signaux et dans d'autres circuits. Les méthodes définies peuvent également s'appliquer aux combinaisons de dispositifs de protection contre les surtensions et les dispositifs de filtrage CEM. La méthode de mesure décrite couvre la gamme de fréquences comprise entre 9 kHz et plusieurs GHz, en fonction du dispositif et du circuit d'essai. La norme décrit des méthodes applicables aux essais en laboratoire (essais de type) et aux essais en usine. Des méthodes d'essai avec et sans conditions de polarisation sont définies. Les caractéristiques d'antiparasitage des filtres et éléments CEM utilisés pour la réduction des perturbations CEM sont fonction de nombreuses variables telles que l'impédance des circuits auxquels elles sont associées, la tension et le courant d'utilisation et la température ambiante. La présente norme spécifie des méthodes d'essai uniformes qui permettent de comparer les caractéristiques de filtrage et d'antiparasitage déterminées par les laboratoires d'essai ou précisées par les constructeurs. Des méthodes de mesure sont fournies pour des conditions avec et sans polarisation. Les mesures effectuées dans des conditions de polarisation permettent de déterminer le comportement non linéaire potentiel des dispositifs de filtrage CEM, comme les effets de saturation exercés sur les inductances à noyaux magnétiques. Ces essais permettent de montrer la facilité d'emploi dans une application spécifique (telle que dans les cas de convertisseurs de fréquence qui produisent de grandes amplitudes de courant de choc de mode commun, et peuvent ainsi entraîner la saturation des inductances). Il n'est pas nécessaire d'effectuer des mesures dans des conditions de polarisation si le comportement non linéaire peut être déterminé par d'autres méthodes (par exemple, mesure séparée de la saturation des inductances utilisées). La première édition du document CISPR 17 (1981) spécifiait les méthodes de mesure de l'affaiblissement d'insertion principalement pour les filtres réseau. Aujourd'hui, divers dispositifs électroniques comportent toutefois de nombreux types de filtres et d'éléments d'antiparasitage CEM complexes. Ces filtres doivent être caractérisés au moyen de méthodes de mesure normalisées. Cette seconde édition comporte les nouvelles méthodes de mesure de l'impédance et des paramètres S pour ce type de dispositifs EMI.
Status
Published

Statut

Current Stage code 6060
Current Stage code date 2011-09-30
Current Stage code deadline 2012-04-15
Deadline date for vote  

Légal

Directive(s) EMC related (2004/108/EC)
Mandate(s)  
Order Voucher  

Détails

IEC Technical Body IEC/SC CISPR/A
Reference Document CISPR 17:2011 (EQV)
ICS 33.100.01 - Electromagnetic compatibility in general
Keywords  
Note  
A-Deviation(s)  
Special National Condition(s)  

Environnement

Clause
Categories - Aspects
Cycle de vie du produit
Information

Histoire

Stage
Date
Deadline Date
Documents
6060 2011-09-30 2012-04-15 export to doc file  EN  FR  DE
5099 2011-07-15 2011-08-12  
5060 2011-05-16 2011-06-06 export to doc file  EN
5020 2011-03-11 2011-05-13  
3090 2010-09-17 2011-01-31  
5060 2010-07-12 2010-07-26 export to doc file  EN
5020 2010-02-05 2010-07-09  
1090 2010-02-02 2010-02-05  

Dates de mise en application

date of Ratification (DOR) (1) 2011-07-15
date of Availability (DAV) (2) 2011-09-30
date of Announcement (DOA) (3) 2011-10-15
date of Publication (DOP) (4) 2012-04-15
date of Withdrawal (DOW) (5) 2014-07-15

Rélations

Supersedes  
Superseded by  
Normative reference (6) IEC 60050-161:1990

(1) Date of ratification (dor) date when the Technical Board notes the approval of an EN (and HD for CENELEC), from which time the standard may be said to be approved


(2) Date of availability (dav) date when the definitive text in the official language versions of an approved CEN/CENELEC publication is distributed by the Central Secretariat


(3) Date of announcement (doa) latest date by which the existence of an EN (and HD for CENELEC), a TS or a CWA has to be announced at national level


(4) Date of publication (dop) latest date by which an EN has to be implemented at national level by publication of an identical national standard or by endorsement


(5) Date of withdrawal (dow) latest date by which national standards conflicting with an EN (and HD for CENELEC) have to be withdrawn


(6) This list of normative references is purely indicative. The only official list of normative reference is the list of the published standard.